所在的位置: >> 尺特点 >> 立式光学计高精度测量

立式光学计高精度测量

上海光学仪器一厂立式光学计是一种高精度的测量仪器,通常采用标准器(如量块)进行比较法测量工件的尺寸。它主要用于对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸进行精密测量。立式光学计的头部也可以作为一个独立体,在科研、生产过程控制及在线测量等方面,对被测件进行微小位移测量,以及对非金属如薄膜、纸张等的厚度进行测量。

立式光学计的测量原理是基于光学放大和影像投影的原理,将被测件与标准器进行比较,从而确定被测件的尺寸。它的测量精度非常高,能够达到微米级别,因此被广泛应用于精密制造、科研、计量等领域。

在使用立式光学计进行测量时,需要将被测件放在仪器的测量台上,调整测量台的高度和角度,以便清晰地看到被测件的影像。然后,通过调节光学计的放大倍数和测量台的移动,可以准确地测量被测件的尺寸。

除了测量尺寸,立式光学计还可以用于对非金属材料的厚度进行测量。这种测量方法非常简单,只需要将被测材料放在测量台上,通过观察投影的影像,就可以读出材料的厚度。这种测量方法适用于各种不同类型的非金属材料,如薄膜、纸张、橡胶等。

总之,上海光学仪器一厂立式光学计是一种功能强大、精度高的测量仪器,适用于各种不同类型的测量需求。无论是精密制造、科研还是计量领域,立式光学计都发挥着重要的作用。




转载请注明:http://www.dbingx.com/jsss/12263.html

  • 上一篇文章:
  •   
  • 下一篇文章: 没有了